哪些方面會使紅外一氧化碳分析儀受到干擾
更新日期:2022-05-25 瀏覽次數(shù):982
在鋼鐵、石油化工、化肥、機械等工業(yè)部門,紅外一氧化碳分析儀是生產(chǎn)流程控制的重要監(jiān)測手段。紅外一氧化碳分析儀的光學部分結構*,電路部分全部采用進口大規(guī)模集成電路。體積小,可靠性高,預熱時間短,可使用戶工作效率大大提高。 1、溫度變化的干擾:
檢測過程需要在恒定的溫度下進行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定,影響紅外輻射的強度,影響測量氣室連續(xù)流動的氣樣密度,還將直接影響檢測器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài),檢測器的輸出阻抗下降,導致儀器不能正常工作,甚至損壞檢測器。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護電路,即使如此,有的儀器示值特別是微量分析儀器,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對檢測的影響,在夏季環(huán)境溫度較高時尤為明顯。在這種情況下,需改變環(huán)境溫度,設置空調(diào)是一種解決辦法。
2、光路不平衡干擾:
一臺紅外線氣體分析儀預熱后通入氮氣時,輸出很大,這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起,因此只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)選鈕使輸出達到小,再調(diào)整光路平衡選鈕使輸出Z小即可。然后同零點氣和量程氣,反復校準儀表零點和量程。
3、水分干擾:
零點氣中若有水分,紅外線氣體分析器標定后,會引起負誤差,在近紅外區(qū)域,水有連續(xù)的特征吸收波譜,若標定用的零點氣中含有水分時,將造成儀器的零位的負偏,標定后儀器示值必然比實際值偏低,從而起負誤差。
4、大氣壓力波動的干擾:
大氣壓力即使在同一個地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時,變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化,對氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣,會隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化,從而造成附加誤差。